Анализатор металлов FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

Запросить цену

Наличие В наличии

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD является одним из самых мощных рентгеновских флуоресцентных устройств в портфеле Fischer. Приборы оснащены особенно большими кремниевыми дрейфовыми детекторами (SDD). Окно детектора 50 мм² обеспечивает быстрый и точный анализ даже для небольших измерительных точек

Сравнить

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD — стационарные рентгенофлуоресцентный анализатор металлов и толщиномер покрытий

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD является одним из самых мощных рентгеновских флуоресцентных устройств в портфеле Fischer. Приборы оснащены особенно большими кремниевыми дрейфовыми детекторами (SDD). Окно детектора 50 мм² обеспечивает быстрый и точный анализ даже для небольших измерительных точек. Кроме того, устройства могут быть оснащены различными диафрагмами и фильтрами для создания оптимальных условий возбуждения для соответствующей задачи измерения.

Особенности FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

  • Высокоэффективные рентгеновские трубки и кремниевый дрейфовый детектор (SDD) с большой эффективной площадью для точного и точного измерения даже самых тонких покрытий
  • Чрезвычайно прочная конструкция для серийного тестирования, с выдающейся долговременной стабильностью
  • Программируемая XY-таблица и Z-ось для автоматизированного последовательного тестирования
  • Живая видеоизображение и лазерная указка позволяют быстро и легко размещать образцы

Приложения FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD:

Измерение толщины покрытия

  • Испытание очень тонких покрытий, например слоев золота и палладия толщиной ≤ 0,1 мкм, в электронике и полупроводниковой промышленности
  • Измерение твердых покрытий в автомобильном производстве
  • Измерение толщины покрытия в фотогальванической промышленности

Анализ материалов

  • Идентификация нежелательных веществ (например, тяжелых металлов) в электронике, упаковке и потребительских товарах в соответствии с RoHS, WEEE, CPSIA и другими рекомендациями
  • Анализ золота и других драгоценных металлов, а также их сплавов
  • Определение состава функциональных покрытий, таких как определение содержания фосфора в NiP

Отличительные особенности

  • подходит для определения тонких покрытий, небольших структур, микроэлементов и сплавов;
  • оснащён высокоточной программируемой XY-опорой и Z-осью с электрическим приводом;
  • метод фундаментальных параметров Fischer исключает необходимость калибровки;
  • соответствует стандартам DIN ISO 3497
    и ASTM B 568;
  • интегрированный видеомикроскоп с масштабированием для точной регулировки точки измерения;
  • представление данных на ПК, анализ и оценка измерений осуществляются с помощью программного обеспечения WinFTM;
  • лазерная указка для облегчения позиционирования и выравнивания образцов.
Вес140 kg
Габариты66 x 83.5 x 72 cm
Страна

Германия

Производитель

Метод анализа

Пылевлагозащита

Отсутствует

Условия работы

от –10 °C до 50 °C

Задачи

, , ,

Техн. Характеристики

Рентгеновский источникмикрофокусная трубка с вольфрамовой мишенью и бериллиевым окном
Напряжение10 кВ, 30 кВ, 50 кВ
Апертура (коллиматор)4 сменных: Ø 0,2 мм; Ø 0,6 мм; Ø 1 мм; Ø 3 мм
Первичный фильтр6 сменных: Ni, Al 1000 мкм, Al 500 мкм, Al 100 мкм, Mylar 100 мкм, без фильтра
Область измерениямин. Ø 0,25 мм;
размер пятна измерения ≈ размер апертуры + 10%; зависит от расстояния измерения и диафрагмы; фактический размер пятна измерения показывается на видеоизображении
Рентгеновский детекторкремниевый дрейфовый детектор, эффективная область 50 мм2
Разрешение≤ 140 эВ
Расстояние до образца0 – 80 мм
Область размещения образца370×320 мм
Максимальная масса образца5 кг / 20 кг
Максимальная высота образца140 мм
Исполнениепрограммируемая XY-регулировка опоры
Перемещение опоры по оси XY250×250 мм
Скорость перемещения опоры60 мм/сек
Перемещение опоры по оси Z140 мм
Лазерная указкаесть
Масштабирование1x, 2x, 3x, 4x
Видеомикроскопцветная CCD камера с высоким разрешением для оптического мониторинга положения измерения вдоль оси первичного луча, ручная фокусировка и автофокус, перекрестье с калиброванной шкалой (линейка) и индикатор пятна, регулируемая светодиодная подсветка, лазерная указка (класс 1) для точного размещения образцов
Фокусировкаавтофокус, ручная настройка фокальной плоскости в диапазоне от 0 до 80 мм
Программное обеспечениестандартно: Fischer WinFTM BASIC включая PDM; опционально: Fischer WinFTM SUPER
Питаниеадаптер переменного тока AC 115 или 230 В; частота 50/60 Гц; потребляемая мощность макс. 120 Вт
Диапазон рабочих температурот +10 до +40 °С
Класс защитыIP40
Температура храненияот 0 до +50 °С
Габариты660×835×720 мм
Масса140 кг

Обзоры

Отзывов пока нет.

Будьте первым, кто оставил отзыв на “Анализатор металлов FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD”

Похожие товары