FISCHERSCOPE X-RAY XUV — стационарные рентгенофлуоресцентный анализатор металлов и толщиномер покрытий
Вакуумная камера измерения приборов в диапазоне FISCHERSCOPE X-RAY XUV позволяет проверять световые материалы из натрия с помощью рентгенофлуоресцентного анализа (XRF). Из-за радиационно-поглощающих свойств воздуха в помещении, как правило, невозможно использовать этот метод. По этой причине прибор идеально подходит для очень требовательных измерений толщины покрытия и анализа материалов.
Особенности FISCHERSCOPE X-RAY XUV:
- Особенно подходит для исследований и разработок с их низкими пределами обнаружения, повторяемой точностью и универсально обновляемыми возможностями измерения
- Вакуумная камера и высокопроизводительный кремниевый дрейфовый детектор для точного измерения даже элементов света
- Автоматическое последовательное тестирование с программируемыми X-, Y- и Z-осями
- Адаптируется к требованиям различных материалов и условий измерения с помощью сменных отверстий и фильтров
Приложения FISCHERSCOPE X-RAY XUV:
Измерение толщины покрытия
- Слои световых элементов из натрия и на шкале нм
- Алюминиевые и кремниевые слои
Анализ материалов
- Определение подлинности и происхождения драгоценных камней
- Общий анализ материалов и криминалистика
- Анализ трассировки с высоким разрешением
Особенности
- высокая чувствительность, высокая степень повторяемости и универсальность измерительных средств;
- кремниевый дрейфовый детектор служит для высокой точности и чувствительности обнаружения;
- приборы имеют программируемые оси X, Y и Z;
- подходят для автоматизированных измерений;
- представление данных на ПК, анализ и оценка измерений осуществляются с помощью программного обеспечения WinFTM;
- метод фундаментальных параметров Fischer исключает необходимость калибровки;
- возможность менять диафрагмы и фильтры в зависимости от задач контроля;
Приборы могут применяться для измерения на тонких покрытиях, таких как CIGS, CIS, CdTe. Используются для неразрушающего анализа золота, ювелирных изделий и драгоценных камней, а также в электронике и полупроводниковой промышленности. Подходят для определения вредных веществ в материалах согласно требованиям RoHS, WEEE.
Основные технические данные:
- Диапазон элементов от Na (11) до U (92), до 24 элементов одновременно
- Напряжение 8 кВ, 20 кВ, 50 кВ
- Максимальная масса образца ≤ 1 кг
- Масса 182 кг
Обзоры
Отзывов пока нет.